一種測(cè)量小角度晶界位向差的透射電鏡方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210238815.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114609166A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-06-10 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114609166A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-10 |
| 分類號(hào) | G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/20016（2018.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳文龍;肖曉玲;周明俊;李揚(yáng);石常亮 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣東省科學(xué)院工業(yè)分析檢測(cè)中心 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 佛山信智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 510651廣東省廣州市天河區(qū)長(zhǎng)興路363號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種測(cè)量小角度晶界位向差的透射電鏡方法，包括步驟：制備透射電鏡試樣；采用透射電鏡找到擬測(cè)量的第一晶粒和第二晶粒；第一次調(diào)節(jié)試樣，第二次調(diào)節(jié)試樣以及計(jì)算結(jié)果。本發(fā)明通過(guò)采用選區(qū)電子衍射，清晰的圖像和衍射花樣一一對(duì)應(yīng)，具有更清晰的辨析度，結(jié)合球面角與雙傾樣品桿準(zhǔn)確描述，簡(jiǎn)單易懂的數(shù)學(xué)計(jì)算快速精確給出相鄰晶粒的位向差，在材料進(jìn)行微觀組織觀察檢測(cè)的同時(shí)快速測(cè)定取向差，具有操作簡(jiǎn)單、計(jì)算方便，直觀易懂的優(yōu)點(diǎn)。 |
