一種測量小角度晶界位向差的透射電鏡方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210238815.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114609166A 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114609166A 申請公布日 2022-06-10
分類號 G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/20016（2018.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳文龍;肖曉玲;周明俊;李揚(yáng);石常亮 申請（專利權(quán)）人 廣東省科學(xué)院工業(yè)分析檢測中心
代理機(jī)構(gòu) 佛山信智匯知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 510651廣東省廣州市天河區(qū)長興路363號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種測量小角度晶界位向差的透射電鏡方法，包括步驟：制備透射電鏡試樣；采用透射電鏡找到擬測量的第一晶粒和第二晶粒；第一次調(diào)節(jié)試樣，第二次調(diào)節(jié)試樣以及計算結(jié)果。本發(fā)明通過采用選區(qū)電子衍射，清晰的圖像和衍射花樣一一對應(yīng)，具有更清晰的辨析度，結(jié)合球面角與雙傾樣品桿準(zhǔn)確描述，簡單易懂的數(shù)學(xué)計算快速精確給出相鄰晶粒的位向差，在材料進(jìn)行微觀組織觀察檢測的同時快速測定取向差，具有操作簡單、計算方便，直觀易懂的優(yōu)點(diǎn)。