偏振光性能的檢測裝置及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110680091.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113340424A 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號 CN113340424A 申請公布日 2021-09-03
分類號 G01J4/00（2006.01）I;H04B10/70（2013.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周輝;喬晟 申請（專利權(quán)）人 上海國科航星量子科技有限公司
代理機構(gòu) 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 黃一磊
地址 200439上海市寶山區(qū)逸仙路1328號1號樓604室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種偏振光性能的檢測方法和檢測裝置。所述檢測方法中，首先待測偏振光束入射到反射式平行光管的主鏡表面且經(jīng)反射匯聚后形成匯聚偏振光，匯聚偏振光束以避開反射式平行光管的次鏡的路徑傳播，然后對匯聚偏振光束進行檢偏，接著檢測匯聚偏振光束中的偏振分量光束的光強度，之后計算待測偏振光束的消光比。利用上述檢測方法對待測偏振光束進行檢測，可以避免次鏡對待測偏振光束的偏振性能的影響，提高消光比的檢測準(zhǔn)確度，有助于準(zhǔn)確評估待測偏振光束的偏振性能。所述檢測裝置中，量子通訊終端發(fā)出的待測偏振光束入射到反射式平行光管的主鏡表面并反射匯聚，形成的匯聚偏振光束以避開次鏡的路徑傳播。