一種用于對(duì)抗手機(jī)攝像頭重采樣的線條檢測(cè)處理方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110586918.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113313724A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-08-27 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113313724A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-27 |
分類號(hào) | G06T7/13(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 何洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳企業(yè)云科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市蘭鋒盛世知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 羅炳鋒 |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道濱海社區(qū)白石路3939號(hào)怡化金融科技大廈21樓05單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于對(duì)抗手機(jī)攝像頭重采樣的線條檢測(cè)處理方法,其包括有如下步驟:步驟S1,獲取待檢測(cè)的圖像;步驟S2,對(duì)待檢測(cè)的圖像進(jìn)行預(yù)處理,將待檢測(cè)的圖像轉(zhuǎn)化為二值化邊緣圖像,以顯示出待檢測(cè)圖像的特征紋理;步驟S3,優(yōu)化參數(shù)遍歷范圍;步驟S4,利用相應(yīng)的貝塞爾曲線公式遍歷已知的數(shù)個(gè)控制點(diǎn)的坐標(biāo),得出多個(gè)線條的積分像素密度值;步驟S5,利用預(yù)設(shè)的像素微積分算子對(duì)多個(gè)線條的積分像素密度值進(jìn)行微分運(yùn)算,然后找出最大積分像素密度值;步驟S6,得到一條或多條線條的像素坐標(biāo)。本發(fā)明基于像素積分與像素微分運(yùn)算處理手段,具備對(duì)抗手機(jī)攝像頭重采樣能力。 |
