一種使用多模型預(yù)測的磁盤故障檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810833695.X 申請日 -
公開（公告）號 CN108986869B 公開（公告）日 2021-04-30
申請公布號 CN108986869B 申請公布日 2021-04-30
分類號 G11C29/10 分類 信息存儲;
發(fā)明人 楊鵬;楊波;周鑲玉;徐磊;張永磊;張琳琳 申請（專利權(quán)）人 南京群頂科技股份有限公司
代理機構(gòu) 南京知識律師事務(wù)所 代理人 張?zhí)K沛
地址 210019 江蘇省南京市建鄴區(qū)奧體大街68號新城科技園國際研發(fā)總部園1幢6-8層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種使用多模型預(yù)測的磁盤故障檢測方法，通過時序數(shù)據(jù)處理手段提取磁盤SMART指標的多種特征，建立分類模型以預(yù)測磁盤狀態(tài)；步驟一，數(shù)據(jù)輸入：獲取若干磁盤在一段時間內(nèi)的監(jiān)測數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)據(jù)集；步驟二，SMART篩選：采用突變點檢測的方式來選擇SMART指標；步驟三，特征工程：SMART指標作為自定義特征提取模塊的輸入，提取SMART指標的特征，進而抽取出相應(yīng)的參數(shù)配置，將參數(shù)配置作為參數(shù)傳入特征提取模塊，用以抽取訓(xùn)練集和測試集的特征集合；步驟四，平衡數(shù)據(jù)集：采用降維聚類，對占比較多的負樣本進行降采樣；步驟五，算法選擇及建模：在步驟四的基礎(chǔ)上訓(xùn)練分類模型，并測試當前磁盤屬于正常狀態(tài)或者需要被替換的故障狀態(tài)。