一種用于修正TDS探針測(cè)量誤差的控制電路及方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811436739.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN109655497B | 公開(公告)日 | 2021-05-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN109655497B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-04 |
分類號(hào) | G01N27/06 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 劉雙春;陳家升;魏肅;柴智;黃志強(qiáng);劉全喜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廈門芯陽(yáng)科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廈門加減專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 陳文香 |
地址 | 361011 福建省廈門市湖里區(qū)中國(guó)(福建)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)廈門片區(qū)港中路1702號(hào)403-405單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種用于修正TDS探針測(cè)量誤差的控制電路及方法,電路包括溫度及TDS采樣模塊、MCU微控制器模塊及TDS誤差修正輔助模塊;各模塊間采用電性連接方式。本發(fā)明提供的一種用于修正TDS探針測(cè)量誤差的控制電路及方法,MCU微控制器模塊通過(guò)軟件編程的方式依據(jù)TDS探針誤差修正算法及TDS探針溫度補(bǔ)償算法,實(shí)現(xiàn)對(duì)TDS探針測(cè)量誤差的修正。本發(fā)明提供的技術(shù)方案在實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)應(yīng)用中,能夠使TDS探針誤差修正過(guò)程更具精確性、實(shí)時(shí)性及智能性的優(yōu)勢(shì),有效地克服了采用TDS探針硬件修正誤差方法中存在的修正精度低及誤差修正范圍受限的問(wèn)題。本發(fā)明提供的技術(shù)方案還具有修正精度高及誤差修正范圍不受限等優(yōu)勢(shì)。 |
