一種實現(xiàn)晶格阻斷的零氣泡Ge/Si異質(zhì)混合集成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910940185.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110676158B | 公開(公告)日 | 2022-06-14 |
申請公布號 | CN110676158B | 申請公布日 | 2022-06-14 |
分類號 | H01L21/18(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 柯少穎;陳松巖;黃東林;周錦榮 | 申請(專利權(quán))人 | 閩南師范大學(xué) |
代理機構(gòu) | 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 363000福建省漳州市薌城區(qū)縣前直街36號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種可實現(xiàn)晶格阻斷的零氣泡Ge/Si異質(zhì)混合集成方法,其具體是通過將非晶結(jié)構(gòu)的Si和Ge雙疊層結(jié)構(gòu)引入到Ge/Si鍵合界面,一方面通過a?Ge的退火晶化實現(xiàn)無氧化層高強度Ge/Si鍵合,另一方面利用a?Si阻斷單晶Si和單晶Ge之間的晶格失配,徹底屏蔽失配位錯來源,并通過疏松結(jié)構(gòu)的a?Si實現(xiàn)鍵合界面副產(chǎn)物的排出和晶格的徹底阻斷,以制備無界面氣泡、無氧化層、無穿透位錯的Ge/Si鍵合界面。 |
