溝槽型功率器件的制造方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111648832.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114429906A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-05-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114429906A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-05-03 |
分類號(hào) | H01L21/336(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊嘯;陳輝;王加坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔡純 |
地址 | 310051浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道聯(lián)慧街6號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了溝槽型功率器件的制造方法。所述制造方法包括:在半導(dǎo)體襯底上形成漂移區(qū);在所述漂移區(qū)中形成第一溝槽和第二溝槽;在所述第一溝槽中形成柵疊層;采用第一離子注入,在所述漂移區(qū)中形成P型的阱區(qū)和摻雜區(qū);以及采用第二離子注入,在所述阱區(qū)中形成N型的源區(qū),其中,所述第一離子注入形成摻雜劑濃度隨著深度逐漸減小的阱區(qū),所述第二離子注入將所述阱區(qū)的上部反型以形成所述源區(qū)。該制造方法在公共的離子注入步驟中以自對(duì)準(zhǔn)方式形成P型的阱區(qū)和摻雜區(qū),不僅可以提高功率器件的性能,而且可以減少離子注入的工藝步驟和掩模數(shù)量,從而降低功率器件的制造成本。 |
