一種集成電路仿真方法及系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110302151.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112836454A | 公開(公告)日 | 2021-05-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112836454A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-25 |
分類號(hào) | G06F30/33 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 吳修衡;朱召法;胡曉翔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江甬聚電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京東方盛凡知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 王穎 |
地址 | 315800 浙江省寧波市北侖區(qū)明州路199號(hào)青年智創(chuàng)園15層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種集成電路仿真方法,包括:S1,基于集成電路的非電學(xué)域進(jìn)行第一次仿真,獲得影響電學(xué)域的第一電學(xué)域參數(shù)值,利用第一電學(xué)域參數(shù)值為第二仿真更新影響電學(xué)域的參數(shù)值;S2,進(jìn)行第二仿真,獲得影響非電學(xué)域第二非電學(xué)域參數(shù)值,利用第二非電學(xué)域參數(shù)值為第一仿真更新影響非電學(xué)域的參數(shù)值;S3,循環(huán)重復(fù)S1、S2,直到仿真結(jié)束。一種集成電路仿真系統(tǒng),包括第一仿真模塊、第一參數(shù)值獲得模塊、第二仿真參數(shù)值更新模塊、第二仿真模塊、第二參數(shù)值獲得模塊、第一仿真參數(shù)值更新模塊和跨域仿真調(diào)度控制模塊。本發(fā)明大大提升了非電學(xué)域?qū)呻娐冯妼W(xué)性能影響所導(dǎo)致的仿真精度和電路規(guī)模大或電路仿真次數(shù)多所面臨的仿真速度。 |
