一種用于多點位工業(yè)數(shù)據(jù)缺陷檢測的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210539286.5 申請日 -
公開（公告）號 CN114648077A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114648077A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 宋艷枝;汪方軍 申請（專利權(quán)）人 合肥高斯智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥匯融專利代理有限公司 代理人 -
地址 230031安徽省合肥市蜀山區(qū)金寨路91號立基大廈A座第16層1603室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及人工智能技術(shù)領(lǐng)域，解決了人力標(biāo)注成本高且分類預(yù)測準(zhǔn)確率低的技術(shù)問題，尤其涉及一種用于多點位工業(yè)數(shù)據(jù)缺陷檢測的方法，包括以下過程：根據(jù)點位信息對第一樣本數(shù)據(jù)集進(jìn)行劃分；將相同點位下的標(biāo)準(zhǔn)樣本和無標(biāo)簽樣本組成的樣本對，輸入孿生網(wǎng)絡(luò)中并將輸出結(jié)果作為偽標(biāo)簽；基于第一樣本數(shù)據(jù)集所劃分的樣本和所述偽標(biāo)簽進(jìn)行點位內(nèi)的數(shù)據(jù)融合以獲得第二樣本數(shù)據(jù)集；基于第二樣本數(shù)據(jù)集構(gòu)造兩個分支的分類損失函數(shù)并利用隨機(jī)梯度下降法優(yōu)化。本發(fā)明通過多點位數(shù)據(jù)信息實現(xiàn)了工業(yè)數(shù)據(jù)的半監(jiān)督學(xué)習(xí)，有效地提高了樣本利用率，提高了自訓(xùn)練孿生網(wǎng)絡(luò)方法在工業(yè)數(shù)據(jù)上的預(yù)測準(zhǔn)確率，還降低了工業(yè)數(shù)據(jù)的人力標(biāo)注成本。