一種分柵結(jié)構(gòu)的半浮柵晶體管及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111414300.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114220741A | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
申請公布號 | CN114220741A | 申請公布日 | 2022-03-22 |
分類號 | H01L21/336(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/788(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 晁鑫;王晨;陳琳;孫清清;張衛(wèi) | 申請(專利權(quán))人 | 復(fù)旦大學(xué) |
代理機(jī)構(gòu) | 北京得信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 孟海娟 |
地址 | 200433上海市楊浦區(qū)邯鄲路220號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種分柵結(jié)構(gòu)的半浮柵晶體管及其制備方法。該分柵結(jié)構(gòu)的半浮柵晶體管包括襯底,其形成有P阱區(qū)、N阱區(qū)和U型槽,其中,N阱區(qū)位于P阱區(qū)上方,U型槽貫穿N阱區(qū);第一柵氧化層,形成在所述U型槽表面并延伸覆蓋部分所述N阱區(qū)表面,且在一側(cè)形成有窗口;半浮柵,覆蓋所述第一柵氧化層并完全填充所述U型槽,且在窗口處與N阱區(qū)相接觸;控制柵介質(zhì)層、控制柵和掩膜層,控制柵介質(zhì)層覆蓋所述半浮柵,控制柵和掩膜層依次形成在所述控制柵介質(zhì)層上;分離柵介質(zhì)層和分離柵,分離柵介質(zhì)層形成在N阱區(qū)表面并延伸覆蓋部分掩膜層表面,分離柵覆蓋分離柵介質(zhì)層并填充分離柵區(qū)域;源區(qū)和漏區(qū),分別形成在所述控制柵和分離柵兩側(cè),所述N阱區(qū)中。 |
