一種用于四頭高速的SMD晶體測(cè)試對(duì)位結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022220890.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN213579152U 公開(kāi)（公告）日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN213579152U 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類(lèi)號(hào) G01B11/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉貴枝;陳桂東;胡聰 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 天津必利優(yōu)科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津企興智財(cái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蘇沖
地址 300380天津市濱海新區(qū)高新區(qū)塘沽海洋科技園新北路4668號(hào)創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)園18-A號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種用于四頭高速的SMD晶體測(cè)試對(duì)位結(jié)構(gòu)，包括晶體定位座、探針對(duì)位校準(zhǔn)座、測(cè)試頭和分度盤(pán)，所述晶體定位座、探針對(duì)位校準(zhǔn)座底部均固定連接至分度盤(pán)邊緣處，分度盤(pán)中部轉(zhuǎn)動(dòng)連接測(cè)試組件，測(cè)試組件一側(cè)固定連接測(cè)試頭，測(cè)試頭位于晶體定位座、探針對(duì)位校準(zhǔn)座的頂部，分度盤(pán)底部設(shè)有固定座，固定座一側(cè)固定連接一個(gè)外部相機(jī)。本實(shí)用新型所述的一種用于四頭高速的SMD晶體測(cè)試對(duì)位結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，設(shè)計(jì)合理，其晶體定位座、探針對(duì)位校準(zhǔn)座、測(cè)試頭和分度盤(pán)可以通過(guò)相機(jī)拍攝和系統(tǒng)校準(zhǔn)精準(zhǔn)對(duì)位代替肉眼觀察定位功能，不僅提高了測(cè)試定位精度，而且成本低廉，經(jīng)濟(jì)實(shí)用，易于操作，適于推廣。