一種實時偏振調(diào)制哈特曼-夏克波前探測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011311863.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112484865B | 公開(公告)日 | 2022-06-28 |
申請公布號 | CN112484865B | 申請公布日 | 2022-06-28 |
分類號 | G01J9/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 顧乃庭;黃林海;郭庭;饒長輝 | 申請(專利權(quán))人 | 中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所 |
代理機構(gòu) | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | - |
地址 | 610209四川省成都市雙流350信箱 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種實時偏振調(diào)制哈特曼?夏克波前探測裝置,利用波前探測目標(biāo)光與背景雜散光之間偏振特性差異,通過在微透鏡陣列與光強探測器之間增加微偏振片陣列,對經(jīng)微透鏡陣列分割后的入射光束進行0°、45°、90°和135°線性偏振調(diào)制,同時獲取不同偏振調(diào)制狀態(tài)下的強度分布,并計算入射光束的偏振度、偏振相位角等偏振維度信息,最終得到波前斜率并復(fù)原波前像差,實現(xiàn)對入射光束波前探測。相對于傳統(tǒng)哈特曼?夏克波前探測裝置,本發(fā)明將波前探測從強度探測維度變換到偏振探測維度,利用目標(biāo)光與背景雜散光偏振特性差異,將目標(biāo)光從背景雜散光中分離出來,極大提升信背比,實現(xiàn)強背景下波前探測。本發(fā)明專利結(jié)構(gòu)緊湊、實時性強。 |
