一種適用于視覺測量相機的絕對位姿測量精度評估方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011394207.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112683163B | 公開（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申請公布號 | CN112683163B | 申請公布日 | 2022-06-28 |
| 分類號 | G01B11/00（2006.01）I;G01C25/00（2006.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 顏坤;趙汝進;馬躍博;劉恩海;周向東 | 申請（專利權(quán)）人 | 中國科學院光電技術(shù)研究所 |
| 代理機構(gòu) | 北京科迪生專利代理有限責任公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 610209四川省成都市雙流350信箱 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種適用于視覺測量相機的絕對位姿測量精度評估方法。提出利用比視覺測量相機在近距離精度更高的激光跟蹤儀作為驗證系統(tǒng)，通過建立相關(guān)坐標系及公式推導，可以準確獲得視覺測量相機的絕對精度。本發(fā)明簡單實用，可推廣應(yīng)用于其他同類型的位姿測量系統(tǒng)的精度驗證過程。 |
