半導體元件直流耐壓自動測試器

基本信息

申請?zhí)?/td> CN90105077.6 申請日 -
公開（公告）號 CN1055242A 公開（公告）日 1991-10-09
申請公布號 CN1055242A 申請公布日 1991-10-09
分類號 G01R31/26 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范傳明 申請（專利權(quán)）人 大連發(fā)電總廠
代理機構(gòu) 沈陽市專利事務(wù)所 代理人 劉兆年
地址 116021遼寧省大連市沙河口區(qū)西安路40號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 半導體元件直流耐壓自動測試器屬于一種用于測定半導體元件直流耐壓的新型測試裝置。測試裝置包括自動恒流測壓系統(tǒng)和自動步進調(diào)壓系統(tǒng)兩部分。本發(fā)明特點是，自動調(diào)控測試電壓，測量電流多擋可選；測試精度高，整機工作安全可靠，小巧輕便，彌補了一般公知的半導體元器件測試設(shè)備的不足。