檢測設(shè)備進(jìn)樣系統(tǒng)密封方法及進(jìn)樣系統(tǒng)、裝置和檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410226231.4 申請日 -
公開（公告）號 CN104034910A 公開（公告）日 2014-09-10
申請公布號 CN104034910A 申請公布日 2014-09-10
分類號 G01N35/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐珩;顏毅堅;馬軍;劉立秋;徐翔 申請（專利權(quán)）人 上海矽感信息科技（集團）有限公司
代理機構(gòu) 深圳市中原力和專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王英鴻;曹撫全
地址 430000 湖北省武漢市東西湖區(qū)臺商投資區(qū)吳南路4號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種檢測設(shè)備進(jìn)樣系統(tǒng)密封方法及進(jìn)樣系統(tǒng)、裝置和檢測設(shè)備，在進(jìn)樣裝置上設(shè)置有密封裝置，使用時，密封裝置與進(jìn)樣口密封連接。本發(fā)明所述密封方法及進(jìn)樣系統(tǒng)、裝置和檢測設(shè)備，將進(jìn)樣口做成開放式敞開的進(jìn)樣口，即密封裝置不設(shè)置在進(jìn)樣口處，而設(shè)置在進(jìn)樣裝置上以達(dá)到與檢測設(shè)備進(jìn)樣口的密封，克服了現(xiàn)有的進(jìn)樣裝置進(jìn)樣時由于需要刺穿隔墊而帶來的污染，進(jìn)而避免了數(shù)據(jù)的干擾，有效降低了物質(zhì)檢出限，提高了用戶體驗。同時本發(fā)明所述的檢測設(shè)備進(jìn)樣系統(tǒng)的密封方法能夠兼容多種進(jìn)樣方式，用戶不需要購置多種檢測設(shè)備，降低了檢測成本。