氣相色譜分離系統(tǒng)、用途及四氟乙烯中微量雜質(zhì)的檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210227842.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102735776A 公開（公告）日 2012-10-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN102735776A 申請(qǐng)公布日 2012-10-17
分類號(hào) G01N30/06(2006.01)I;G01N30/02(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 肖大政;段紹書;汪永紅 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中昊晨光化工研究院有限公司廈門分公司
代理機(jī)構(gòu) 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王朋飛;張慶敏
地址 643201 四川省自貢市富順縣晨光路135號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種氣相色譜分離系統(tǒng)，包括預(yù)分離柱和分離柱串聯(lián)的雙色譜柱，預(yù)分離柱和分離柱之間由四通閥連接，并可以控制預(yù)分離柱和分離柱的連通和斷開。本發(fā)明還涉及了上述氣相色譜分離系統(tǒng)在檢測(cè)四氟乙烯中微量雜質(zhì)中的用途。本發(fā)明還涉及了一種四氟乙烯中微量雜質(zhì)的檢測(cè)方法，采用了本發(fā)明所述的分離系統(tǒng)，對(duì)四氟乙烯中的微量雜質(zhì)進(jìn)行氣相色譜檢測(cè)。本發(fā)明提供的相色譜分離系統(tǒng)以及檢測(cè)方法解決了四氟乙烯主峰拖尾嚴(yán)重易掩蓋雜質(zhì)峰的問題，采用主峰切割技術(shù)，使微量雜質(zhì)得到了很好的分離，得到的檢測(cè)結(jié)果靈敏度高、檢測(cè)下限低，是一種準(zhǔn)確、可靠的檢測(cè)方法。