一種磁控濺射產(chǎn)生碳離子的組件及ta-C膜沉積設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202123449761.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN216891179U 公開(kāi)(公告)日 2022-07-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN216891179U 申請(qǐng)公布日 2022-07-05
分類(lèi)號(hào) C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I 分類(lèi) 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴(kuò)散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕;
發(fā)明人 郎文昌;林琪澳;章柯;張振華;張祖航 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 溫州職業(yè)技術(shù)學(xué)院
代理機(jī)構(gòu) 溫州名創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 325000浙江省溫州市甌海區(qū)東方南路38號(hào)溫州市國(guó)家大學(xué)科技園孵化器
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型屬于真空鍍膜技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種磁控濺射產(chǎn)生碳離子的組件及ta?C膜沉積設(shè)備。本實(shí)用新型的磁控濺射產(chǎn)生碳離子的組件,其中設(shè)有的兩個(gè)第一靶材相對(duì)設(shè)置,當(dāng)?shù)入x子體中的粒子轟擊第一靶材,形成的帶正電的離子和不帶電的顆粒向兩個(gè)第一靶材中間的區(qū)域運(yùn)動(dòng),帶正電的離子在電磁場(chǎng)的作用下,離開(kāi)濺射區(qū),進(jìn)入到磁場(chǎng)導(dǎo)向區(qū),通過(guò)離子出口進(jìn)入真空腔室,進(jìn)行沉積,而絕大多數(shù)不帶電的碳顆粒保留在濺射區(qū),進(jìn)一步與等離子體中的粒子碰撞形成碳離子,本實(shí)用新型既能大大減少沉積區(qū)域的碳顆粒數(shù)量,同時(shí)不影響沉積速度。