一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410735324.X 申請日 -
公開（公告）號 CN104390617A 公開（公告）日 2015-03-04
申請公布號 CN104390617A 申請公布日 2015-03-04
分類號 G01B21/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉俊峰;鄧巨高;劉健 申請（專利權）人 東莞市毫克檢測儀器有限公司
代理機構 深圳市嘉宏博知識產(chǎn)權代理事務所 代理人 李杰
地址 523000 廣東省東莞市樟木頭鎮(zhèn)官倉銀嶺富豪工業(yè)區(qū)D棟3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，包括以下步驟：步驟1：啟動系統(tǒng)，建立通訊；步驟2：把校高參數(shù)A設為0；步驟3：執(zhí)行校高/測高主體過程；首先，程序判斷校高參數(shù)A是否為0；當校高參數(shù)A=0時，程序進入步驟3-1執(zhí)行高度校準程序，按通訊協(xié)議發(fā)送校準高度指令，來控制機臺；當校高參數(shù)A=1時，則進入下述步驟3-2執(zhí)行高度測量程序，按通訊協(xié)議發(fā)送測高指令，來控制機臺；接下來，執(zhí)行下述步驟3-2-1：讀緩沖區(qū)數(shù)據(jù)，然后讀數(shù)據(jù)存儲區(qū)測量平臺的零點，再畫出力-位移曲線圖；當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-2-2：計算出被測彈片的高度，然后存入數(shù)據(jù)存儲區(qū)，生成文字報告。本發(fā)明測量精度高，測量數(shù)據(jù)精度有高一致性。