一種波導(dǎo)陣列的相差測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201822275859.X 申請日 -
公開（公告）號 CN209311049U 公開（公告）日 2019-08-27
申請公布號 CN209311049U 申請公布日 2019-08-27
分類號 G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉敬偉; 李文玲; 田立飛; 張新群 申請（專利權(quán)）人 中科天芯科技（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 中科天芯科技（北京）有限公司;國科光芯（海寧）科技股份有限公司
地址 100009 北京市西城區(qū)鼓樓西大街62號339室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供的一種波導(dǎo)陣列的相差測量裝置，包括監(jiān)控波導(dǎo)、片外耦合器和探測器；所述監(jiān)控波導(dǎo)設(shè)于相鄰陣列波導(dǎo)之間，與所述陣列波導(dǎo)之間通過倏逝波耦合形成耦合光束；所述耦合光束通過所述片外耦合器傳輸至所述探測器；所述探測器將所述耦合光束轉(zhuǎn)化并輸出電流信號。通過單根波導(dǎo)實(shí)現(xiàn)功率提取和合束，并通過探測器測量干涉功率，結(jié)構(gòu)緊湊，便于設(shè)置在相控陣芯片輸出端或天線附近，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的相差測量。