一種用于隱形眼鏡視覺檢測(cè)的載盤及載盤系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020008664.3 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211785212U 公開(公告)日 2020-10-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN211785212U 申請(qǐng)公布日 2020-10-27
分類號(hào) G01N21/958(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 蔡仲倫;陳岳;徐楠;蘇慶豐 申請(qǐng)(專利權(quán))人 平方和(北京)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市盛峰律師事務(wù)所 代理人 平方和(北京)科技有限公司
地址 100094北京市海淀區(qū)北清路81號(hào)一區(qū)1號(hào)樓11層1101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于隱形眼鏡視覺檢測(cè)的載盤及載盤系統(tǒng),所述載盤上表面設(shè)置有放置槽,所述放置槽自所述載盤的上表面向下凹陷形成,所述放置槽的下表面為向下凹陷的曲面,所述放置槽的周向邊緣與所述載盤的邊緣相距一定距離,所述放置槽的下表面與所述載盤的下表面相距一定距離。優(yōu)點(diǎn)是:減少了由于鏡片貼邊產(chǎn)生的檢測(cè)準(zhǔn)確率下降的問題,使得視覺檢測(cè)的準(zhǔn)確率有極大提升;從光學(xué)成像角度來分析,有更好的直光或聚光效果,使得隱形眼鏡的邊緣表面瑕疵更明顯的呈現(xiàn)在圖像中,可保證機(jī)器視覺算法提取,提高分析瑕疵的準(zhǔn)確率。??