一種提高霍爾器件抗靜電擊穿能力的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN02116447.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN1450671A | 公開(公告)日 | 2003-10-22 |
申請公布號(hào) | CN1450671A | 申請公布日 | 2003-10-22 |
分類號(hào) | H01L43/12;H01L43/06;H01L23/60 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 鄭一陽;韓海;景士平;梁平 | 申請(專利權(quán))人 | 北京華源科半光電子科技有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 100083北京市海淀區(qū)清華東路肖莊林業(yè)大學(xué)院內(nèi)中科院半導(dǎo)體所 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種抗靜電脈沖電壓的離子注入型砷化鎵霍爾器件的制備工藝方法,采用特別的電極圖形,使在金屬電極與有源區(qū)接觸的界面區(qū)域,形成一個(gè)寬度為10μm的過渡區(qū),有源器件在該過渡區(qū)域的寬度逐漸改變,從而避免區(qū)域容易發(fā)生擊穿的缺陷,大大提高了器件的可靠性。 |
