一種快速測量多晶硅中微量硼雜質的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410014232.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103760218B | 公開(公告)日 | 2015-10-28 |
申請公布號 | CN103760218B | 申請公布日 | 2015-10-28 |
分類號 | G01N27/62(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王曉艷;楊鳳炳;李偉生;龔炳生 | 申請(專利權)人 | 福建興朝陽硅材料股份有限公司 |
代理機構 | 北京元中知識產權代理有限責任公司 | 代理人 | 福建興朝陽硅材料股份有限公司 |
地址 | 364211 福建省龍巖市上杭縣南陽鎮(zhèn)射山村富坑湖洋塘背路1-2號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種快速測量多晶硅中微量硼雜質的方法。包括:稱取多晶硅樣品試樣;向試樣中加入甘露醇溶液;再向試樣中加入碳酸鉀溶液;然后加入氫氟酸,再緩慢滴入硝酸進行酸化溶解;待試樣溶解后,加熱至白煙冒盡,停止加熱;向試樣中加入鹽酸浸泡,再用少量的純水稀釋,冷卻;待冷卻后,向溶液中加入甲醇,搖勻,定容;定容后,用氨水和純水分別沖洗ICP-MS;待ICP-MS沖洗完成,將定容后的溶液試樣采用ICP-MS檢測,即可精確測量出樣品的硼含量。本方法工藝簡單,成本低,測量精確、能快速測量多晶硅中硼的含量。 |
