一種混合集成光電芯片襯底結(jié)構(gòu)的制備方法及襯底結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110518985.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113437162A | 公開(公告)日 | 2021-09-24 |
申請公布號 | CN113437162A | 申請公布日 | 2021-09-24 |
分類號 | H01L31/0236(2006.01)I;H01L31/0392(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 歐欣;陳陽;黃凱 | 申請(專利權(quán))人 | 上海新硅聚合半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 郝傳鑫;賈允 |
地址 | 201800上海市嘉定區(qū)匯源路55號8幢3層J | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及光電芯片技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種混合集成光電芯片襯底結(jié)構(gòu)的制備方法及襯底結(jié)構(gòu)。方法包括:獲取絕緣體上硅襯底和絕緣體上鈮酸鋰薄膜襯底;絕緣體上硅襯底包括支撐層和鍵合層,鍵合層包括硅薄膜層,硅薄膜層設(shè)置在支撐層上;絕緣體上鈮酸鋰薄膜襯底包括鈮酸鋰薄膜層;將鈮酸鋰薄膜層與鍵合層鍵合得到復(fù)合鍵合結(jié)構(gòu);去除復(fù)合鍵合結(jié)構(gòu)中的支撐層,暴露出硅薄膜層得到混合集成光電芯片襯底結(jié)構(gòu)。通過將絕緣體上硅襯底和絕緣體上鈮酸鋰薄膜襯底鍵合,得到性能優(yōu)異的混合集成光電芯片襯底結(jié)構(gòu),從而能夠?qū)崿F(xiàn)性能更加優(yōu)秀的光電芯片的制備。 |
