一種磁共振成像系統(tǒng)中剩磁的測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111208712.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113933769A 公開（公告）日 2022-01-14
申請公布號 CN113933769A 申請公布日 2022-01-14
分類號 G01R33/12（2006.01）I;G01R33/38（2006.01）I;G01R33/385（2006.01）I;A61B5/055（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉東麟;安涌;張翠華 申請（專利權(quán)）人 上海復(fù)旦數(shù)字醫(yī)療科技股份有限公司
代理機構(gòu) 上海一平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐迅;崔佳佳
地址 200031上海市徐匯區(qū)肇嘉浜路446弄1號樓2205-2207室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種磁共振成像系統(tǒng)中剩磁的測量方法，該方法利用磁場非均勻性對自旋回波和梯度回波作用的差異，測量施加高強度梯度磁場前后磁場均勻性的變化，再利用這種變化所導(dǎo)致的回波峰值的改變來量度剩磁的強度。本發(fā)明提出的測量方法不需要額外的測量儀器，測量流程簡單易行，而且可以量度剩磁的空間各向異性。該方法可以評估剩磁對成像空間定位的影響，特別適用于判斷永磁磁共振成像系統(tǒng)是否滿足介入治療中監(jiān)控和導(dǎo)航對空間定位的要求。