一種提高測試效率的ATE測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811607629.7 申請日 -
公開（公告）號 CN109884498B 公開（公告）日 2021-07-13
申請公布號 CN109884498B 申請公布日 2021-07-13
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 薛來熙;吳勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王靜 申請（專利權(quán)）人 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 上海海貝律師事務所 代理人 范海燕
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)郭守敬路351號2號樓1樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種提高測試效率的ATE測試模式，本技術(shù)方案由2部分構(gòu)成：數(shù)據(jù)處理用的電腦及數(shù)據(jù)傳輸使用的網(wǎng)絡路由器；將ATE測試電腦及數(shù)據(jù)處理電腦，通過網(wǎng)線接到數(shù)據(jù)傳輸路由器上，構(gòu)成局域網(wǎng)，并將數(shù)據(jù)處理電腦的某個硬盤，通過局域網(wǎng)共享給ATE測試電腦使用，該硬盤為備份硬盤；本發(fā)明提供的提高測試效率的ATE測試模式，該模式是將采集數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)分析和處理及返回測試Bin進行分開，ATE將所需數(shù)據(jù)采集完，就可空出ATE，用于其他的集成電路測試，這樣可以提高ATE的測試效益；數(shù)據(jù)采集完，存檔在另一臺電腦中，也可避免因大數(shù)據(jù)處理中，ATE電腦死機時，造成數(shù)據(jù)丟失。