集成電路光學(xué)芯片光圈測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910251137.7 申請日 -
公開（公告）號 CN110031188B 公開（公告）日 2021-08-27
申請公布號 CN110031188B 申請公布日 2021-08-27
分類號 G01M11/02;G01R31/303;G01N21/95 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王華;張志勇;鄧維維;余琨;季海英;羅斌 申請（專利權(quán)）人 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 上海海貝律師事務(wù)所 代理人 范海燕
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)郭守敬路351號2號樓1樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種集成電路光學(xué)芯片光圈測試方法，對抓取到的圖像陣列按照圓的概念進行處理，處理的方法即是通過半徑來劃分，得到一個一個的圓形圖案，按照坐標(biāo)進行重構(gòu)為另外的一個二維數(shù)組，然后對得到的數(shù)組進行相應(yīng)的運算，最終得到需要的值；本發(fā)明提供的集成電路光學(xué)芯片光圈測試方法，在不增加任何的額外硬件成本，使用原有的測試條件下，本發(fā)明解決目前行業(yè)內(nèi)無成熟覆蓋屏幕指紋芯片光圈故障的測試方法和算法的技術(shù)問題。