低壓線性穩(wěn)壓器壓降電壓的測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110587357.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113325226A | 公開(公告)日 | 2021-08-31 |
申請公布號 | CN113325226A | 申請公布日 | 2021-08-31 |
分類號 | G01R19/25(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 余琨;劉遠華;凌儉波;吳勇佳;祁建華;崔孝葉 | 申請(專利權(quán))人 | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 田婷 |
地址 | 201203上海市浦東新區(qū)郭守敬路351號2號樓6樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種低壓線性穩(wěn)壓器壓降電壓的測試方法,包括:將第一次輸入電壓輸入至低壓線性穩(wěn)壓器,測得低壓線性穩(wěn)壓器的第一次實際輸出電壓;計算得到低壓線性穩(wěn)壓器的第二次輸入電壓;將第二輸入電壓輸入至低壓線性穩(wěn)壓器,測得低壓線性穩(wěn)壓器的第二次實際輸出電壓;計算得到一理論輸出電壓;計算低壓線性穩(wěn)壓器的第三次輸入電壓;將第三次輸入電壓輸入至低壓線性穩(wěn)壓器,測得低壓線性穩(wěn)壓器的第三次實際輸出電壓;計算第三次輸入電壓與第三次實際輸出電壓的差值,以得到低壓線性穩(wěn)壓器的實際壓降電壓值。本發(fā)明通過簡化測試步驟,以解決現(xiàn)有技術(shù)測試時間長且測試數(shù)據(jù)分析復雜的問題,大大提高了測試便捷性與測試效率。 |
