一種增加測(cè)試機(jī)向量深度的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110011857.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112802538A 公開(kāi)（公告）日 2021-05-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN112802538A 申請(qǐng)公布日 2021-05-14
分類(lèi)號(hào) G11C29/56 分類(lèi) 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 王斌;劉遠(yuǎn)華;吳勇佳;范文萱;吳杰曄 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海海貝律師事務(wù)所 代理人 宋振宇
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)郭守敬路351號(hào)2號(hào)樓1樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種增加測(cè)試機(jī)向量深度的方法，1）在測(cè)試芯片的測(cè)試板上單獨(dú)安裝滿(mǎn)足測(cè)試要求的存儲(chǔ)器；2）程序會(huì)把超標(biāo)的向量先寫(xiě)入到測(cè)試板的存儲(chǔ)芯片中；3）當(dāng)程序執(zhí)行到某一個(gè)測(cè)試項(xiàng)時(shí)，測(cè)試項(xiàng)向量超過(guò)測(cè)試機(jī)本身深度時(shí)，測(cè)試板上存儲(chǔ)器內(nèi)向量分批讀入測(cè)試機(jī)內(nèi)向量，分批執(zhí)行，程序把超標(biāo)的向量先寫(xiě)入到測(cè)試板的存儲(chǔ)芯片中，直到測(cè)試向量全部完成。本發(fā)明提供的一種增加測(cè)試機(jī)向量深度的方法，解決了在測(cè)試機(jī)向量深度不夠的情況下還依然可以使用較大的測(cè)試向量，在針卡上每個(gè)site對(duì)應(yīng)裝存儲(chǔ)芯片，大向量存到針卡存儲(chǔ)芯片中，測(cè)試時(shí)把針卡上存入向量分批讀入測(cè)試機(jī)里向量存儲(chǔ)空間，直至向量測(cè)試完成。