集成電路光學(xué)芯片光圈測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910251137.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110031188A 公開(kāi)（公告）日 2019-07-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN110031188A 申請(qǐng)公布日 2019-07-19
分類號(hào) G01M11/02;G01R31/303;G01N21/95 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王華;張志勇;鄧維維;余琨;季海英;羅斌 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海海貝律師事務(wù)所 代理人 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)郭守敬路351號(hào)2號(hào)樓1樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種集成電路光學(xué)芯片光圈測(cè)試方法，對(duì)抓取到的圖像陣列按照?qǐng)A的概念進(jìn)行處理，處理的方法即是通過(guò)半徑來(lái)劃分，得到一個(gè)一個(gè)的圓形圖案，按照坐標(biāo)進(jìn)行重構(gòu)為另外的一個(gè)二維數(shù)組，然后對(duì)得到的數(shù)組進(jìn)行相應(yīng)的運(yùn)算，最終得到需要的值；本發(fā)明提供的集成電路光學(xué)芯片光圈測(cè)試方法，在不增加任何的額外硬件成本，使用原有的測(cè)試條件下，本發(fā)明解決目前行業(yè)內(nèi)無(wú)成熟覆蓋屏幕指紋芯片光圈故障的測(cè)試方法和算法的技術(shù)問(wèn)題。