一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110227730.1 申請日 -
公開（公告）號 CN102930067A 公開（公告）日 2013-02-13
申請公布號 CN102930067A 申請公布日 2013-02-13
分類號 G06F17/50(2006.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 郭林;舒斌 申請（專利權(quán)）人 重慶切普電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 401120 重慶市渝北區(qū)星光大道62號海王星科技大廈5區(qū)9層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開的一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計方法，比較完整、全面地解決了芯片電阻制作時相互矛盾的微型化、高精度、電阻值寬范圍可調(diào)、電阻條功率一致性好、電阻值便于修調(diào)等幾個技術(shù)指標(biāo)。所述一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計方法，理論上依據(jù)的是一個特定的數(shù)學(xué)模型。工藝設(shè)計上，該數(shù)學(xué)模型中的Ra應(yīng)該是生產(chǎn)加工線實(shí)際工藝精度的下限值，R1則是一個比較小的固定值，同時R1圖形的結(jié)構(gòu)、形狀、面積大小應(yīng)該滿足激光修調(diào)設(shè)備對修調(diào)對象在機(jī)械定位、修調(diào)光斑上的特殊要求。如果需要精度非常高的R，R2應(yīng)該設(shè)計為小于R絕對誤差中心值的一半；如果需要電阻值變化范圍比較大的R，R2可以設(shè)計為R的絕對誤差值。一般來講，R要求的精度越高，R2的設(shè)計就越小，這時n的取值越大；R的變化范圍要求越大，n的取值也越大。