一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計(jì)方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201110227730.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN102930067B | 公開(kāi)(公告)日 | 2016-03-09 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN102930067B | 申請(qǐng)公布日 | 2016-03-09 |
分類(lèi)號(hào) | G06F17/50(2006.01)I | 分類(lèi) | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 郭林;舒斌 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 重慶萬(wàn)道光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 401120 重慶市渝北區(qū)星光大道62號(hào)海王星科技大廈5區(qū)9層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)的一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計(jì)方法,比較完整、全面地解決了芯片電阻制作時(shí)相互矛盾的微型化、高精度、電阻值寬范圍可調(diào)、電阻條功率一致性好、電阻值便于修調(diào)等幾個(gè)技術(shù)指標(biāo)。所述一種高精度可調(diào)芯片電阻的設(shè)計(jì)方法,理論上依據(jù)的是一個(gè)特定的數(shù)學(xué)模型。工藝設(shè)計(jì)上,該數(shù)學(xué)模型中的Ra應(yīng)該是生產(chǎn)加工線(xiàn)實(shí)際工藝精度的下限值,R1則是一個(gè)比較小的固定值,同時(shí)R1圖形的結(jié)構(gòu)、形狀、面積大小應(yīng)該滿(mǎn)足激光修調(diào)設(shè)備對(duì)修調(diào)對(duì)象在機(jī)械定位、修調(diào)光斑上的特殊要求。如果需要精度非常高的R,R2應(yīng)該設(shè)計(jì)為小于R絕對(duì)誤差中心值的一半;如果需要電阻值變化范圍比較大的R,R2可以設(shè)計(jì)為R的絕對(duì)誤差值。一般來(lái)講,R要求的精度越高,R2的設(shè)計(jì)就越小,這時(shí)n的取值越大;R的變化范圍要求越大,n的取值也越大。 |
