一種半導(dǎo)體晶粒檢驗(yàn)工裝
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201822273800.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN209312728U | 公開(kāi)（公告）日 | 2019-08-27 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN209312728U | 申請(qǐng)公布日 | 2019-08-27 |
| 分類號(hào) | H01L21/67（2006.01）I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 李鳳麗; 鄒祥林; 張俊 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 泰州芯格電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 常州易瑞智新專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 周浩杰 |
| 地址 | 225500 江蘇省泰州市姜堰南環(huán)西路1001號(hào)科技大廈 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體晶粒檢驗(yàn)工裝，包括支撐架；所述支撐架上固定設(shè)有用于盛放半導(dǎo)體晶粒的透明的盛放板；所述支撐架上還設(shè)有位于盛放板的正下方用于映照盛放板上情況的鏡子。本實(shí)用新型便于半導(dǎo)體晶粒的檢驗(yàn)和分揀，通過(guò)鏡子可以同時(shí)對(duì)半導(dǎo)體晶粒的正反面進(jìn)行檢查和分揀，大大提高分揀效率。 |
