一種芯片測試托盤

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122838953.3 申請日 -
公開（公告）號 CN216670184U 公開（公告）日 2022-06-03
申請公布號 CN216670184U 申請公布日 2022-06-03
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 韓成 申請（專利權(quán)）人 東莞記憶存儲科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市精英專利事務(wù)所 代理人 -
地址 523000廣東省東莞市松山湖高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)工業(yè)東路32號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片測試托盤，包括托盤主體、老化板和轉(zhuǎn)接板組件，老化板設(shè)有插座。轉(zhuǎn)接板組件包括板體、存儲器、主控I C，以及用于安裝芯片的安裝座；板體插接于插座上，存儲器、主控I C和安裝座均固定于板體上。本實用新型通過設(shè)計的帶有主控I C的板體，測試時只需要將待測芯片安裝在板體的安裝座上即可，測試方便，可以兼容測試多種芯片的，兼容性高。另外，在板體上還設(shè)有散熱件，且其安裝完成后處于存儲器和主控I C的上方，因此，在工作時，散熱效果好，避免了測試時溫度過高，影響測試的穩(wěn)定性，大大降低了故障率。