測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610974213.3 申請日 -
公開（公告）號 CN108020126A 公開（公告）日 2018-05-11
申請公布號 CN108020126A 申請公布日 2018-05-11
分類號 G01B3/20;G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12;G01B5/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張志波;白曦東;張晶 申請（專利權(quán)）人 北京博維恒信科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 北京匯思誠業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京博維恒信科技發(fā)展有限公司
地址 100085 北京市昌平區(qū)北七家鎮(zhèn)宏福創(chuàng)業(yè)園科技園綜合樓2-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及測量器具技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測量裝置，其包括第一本體、第二本體、基準測量部、第一測量部和第二測量部；所述第一測量部和所述第二測量部均安裝于所述第一本體上，且兩者之間的距離為預(yù)設(shè)值；所述第二本體伸縮連接于所述第一本體上，所述基準測量部安裝于所述第二本體上，所述第一測量部的測量位置位于所述基準測量部的測量位置與所述第二測量部的測量位置之間，所述第二本體上具有測量刻度；在所述第二本體的伸縮行程上，所述測量裝置所測得的值為所述基準測量部與所述第一測量部之間的距離，或者所述距離與所述預(yù)設(shè)值之和。該測量裝置可以適用于被測量的大小大于測量裝置的長度的情況，因此其所適用的范圍更廣。