一種光電傳感器測試設(shè)備及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610202099.2 申請日 -
公開（公告）號 CN105890641B 公開（公告）日 2018-02-06
申請公布號 CN105890641B 申請公布日 2018-02-06
分類號 G01D18/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顏莉華 申請（專利權(quán)）人 南京慧感電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 南京慧感電子科技有限公司
地址 210000 江蘇省南京市南京海峽兩岸科技工業(yè)園臺(tái)中路99-193號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光電傳感器測試設(shè)備及其測試方法，包括機(jī)構(gòu)底座、測試軌道和測試暗室，所述機(jī)構(gòu)底座具有斜坡；所述測試軌道沿斜坡鋪設(shè)，使得待測光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測試軌道的一斜邊由上而下滑動(dòng)；所述測試暗室位于測試軌道上，測試暗室內(nèi)設(shè)置有支撐裝置、反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源：所述支撐裝置將測試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿測試軌道由上往下依次設(shè)置，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源；所述反射板設(shè)置于第一暗室和第二暗室的頂部；所述標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。本發(fā)明具有節(jié)能、誤差小、測試時(shí)間短、效率高等諸多優(yōu)點(diǎn)。