基于光照背景差影法的水果表面缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510411925.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN105044128B 公開(kāi)（公告）日 2017-09-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN105044128B 申請(qǐng)公布日 2017-09-01
分類(lèi)號(hào) G01N21/952(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T5/10(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 應(yīng)義斌;容典;饒秀勤 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 杭州諾田智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州求是專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 代理人 浙江大學(xué)
地址 310012 浙江省杭州市余杭區(qū)五常街道聯(lián)創(chuàng)街153號(hào)麗水?dāng)?shù)字大廈B座1102
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于光照背景差影法的水果表面缺陷檢測(cè)方法。是先對(duì)RGB彩色圖像去除背景轉(zhuǎn)換成灰度圖像，對(duì)灰度圖像進(jìn)行中值濾波獲得光照背景圖像，將光照背景圖減去灰度圖像獲得差影圖像，差影圖像進(jìn)行對(duì)比度調(diào)整，然后閾值分割獲得二值化圖像，二值化圖像進(jìn)行區(qū)域填充和中值濾波獲得表面缺陷圖像。本發(fā)明有效避免了對(duì)水果及農(nóng)產(chǎn)品形狀、大小的依賴以及避免了亮度矯正帶來(lái)較復(fù)雜的計(jì)算方法，也避免了依賴高光譜以及多光譜成像硬件帶來(lái)的高成本性問(wèn)題。能夠有效檢測(cè)多種表面缺陷。方法應(yīng)用對(duì)象較廣，方法算法簡(jiǎn)便易于程序?qū)崿F(xiàn)，而且算法流程執(zhí)行速度快從而提高檢測(cè)效率，在水果及農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)計(jì)算機(jī)視覺(jué)在線檢測(cè)方面具有應(yīng)用潛力。