一種薄膜電容產(chǎn)品外觀瑕疵檢驗裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022435672.9 申請日 -
公開（公告）號 CN213516920U 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN213516920U 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01N21/89（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉駿;張嘯宇 申請（專利權(quán)）人 深圳宇駿視覺智能科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市海盛達知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 趙雪佳
地址 518000廣東省深圳市明區(qū)鳳凰街道塘家社區(qū)光明高新產(chǎn)業(yè)園觀光路以南、邦凱路以西邦凱科技工業(yè)園4#廠房六層-A603
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種薄膜電容產(chǎn)品外觀瑕疵檢驗裝置，其包括操作臺和支架，所述操作臺上設有進料裝置和轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤上設有多個產(chǎn)品位，所述進料裝置的物料出口對著轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤的外側(cè)沿圓周方向設有底部外觀檢測位、薄膜電容外觀檢測位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外觀檢測位在位于轉(zhuǎn)盤產(chǎn)品位的下方設有底部外觀檢測攝像頭，所述支架位于轉(zhuǎn)盤的一側(cè)，所述支架上設有用于檢測薄膜電容頂面、正面、背面、左側(cè)面、右側(cè)面、引線正面、引線背面外觀的多個不同角度的攝像頭；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一側(cè)分別設有出料機構(gòu)。采用本實用新型的技術方案，極大的提升了檢驗靈活性與準確性，并且易于更新和維護。