透明構(gòu)件缺陷的光學(xué)和熱紅外多級成像檢測方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911054181.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110827256B | 公開(公告)日 | 2022-04-26 |
申請公布號 | CN110827256B | 申請公布日 | 2022-04-26 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06V20/10(2022.01)I;G06V10/40(2022.01)I;G06V10/82(2022.01)I;G01N21/958(2006.01)I;G01N25/72(2006.01)I;G01J5/48(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張國軍;明五一;張臻;尹玲;陳志君;張紅梅;廖敦明;盧亞;耿濤;沈帆 | 申請(專利權(quán))人 | 廣東華中科技大學(xué)工業(yè)技術(shù)研究院 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 羅曉林;楊桂洋 |
地址 | 523000廣東省東莞市松山湖高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科技九路1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種透明構(gòu)件缺陷的光學(xué)和熱紅外多級成像檢測方法及裝置,包括以下步驟:對3C透明構(gòu)件進(jìn)行光學(xué)成像,獲取光學(xué)圖像,初步判定3C透明構(gòu)件的缺陷位置和大?。焕玫?dú)鈱?C透明構(gòu)件的缺陷位置加熱,進(jìn)行熱紅外成像,獲取熱紅外圖像;將光學(xué)圖像和熱紅外圖像進(jìn)行融合處理,再通過深度學(xué)習(xí)認(rèn)識出3C透明構(gòu)件的缺陷類別。所述裝置包括通過總線相互通信連接的光學(xué)檢測模塊、熱紅外檢測模塊、運(yùn)動控制模塊、數(shù)據(jù)融合模塊、深度學(xué)習(xí)模塊、輔助機(jī)械手和顯示報警模塊。本發(fā)明通過光學(xué)成像和熱紅外超聲成像,對缺陷產(chǎn)品進(jìn)行多物理量、多級方式檢測,再通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)完成光學(xué)和紅外的多源信息融合,從而提升3C透明構(gòu)件缺陷檢測的辨識率。 |
