一種提高氮化鎵基電流擴展的外延結(jié)構(gòu)及其生長方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310340263.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103400914B | 公開(公告)日 | 2016-06-29 |
申請公布號 | CN103400914B | 申請公布日 | 2016-06-29 |
分類號 | H01L33/32(2010.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 郭麗彬;蔣利民;李剛 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇華功半導體有限公司 |
代理機構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 230012 安徽省合肥市新站區(qū)工業(yè)園內(nèi) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種提高氮化鎵基電流擴展的外延結(jié)構(gòu)及其生長方法,該外延結(jié)構(gòu)從下向上的順序依次為:襯底、低溫GaN緩沖層、GaN非摻雜層、n型GaN層n1層、n型AlGaN層、n型GaN層n2層、n型GaN層LN層、多量子阱結(jié)構(gòu)MQW、多量子阱有源層、低溫P型GaN層、P型AlGaN層、高溫P型GaN層和P型接觸層。其中n型GaN層LN層的生長步驟包括:先生長n型GaN層nGaN3-1層,接著生長n型AlGaN層,最后再生長n型GaN層nGaN3-2層。本發(fā)明外延結(jié)構(gòu)及其生長方法,能夠有效使得電流均勻擴展,提高外延層晶體質(zhì)量,提高器件性能。 |
