X射線衍射-熒光雙譜儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200920105107.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN201335815Y 公開（公告）日 2009-10-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN201335815Y 申請(qǐng)公布日 2009-10-28
分類號(hào) G01N23/207(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 江向峰;董連武 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京布萊格科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 布萊格科技（北京）有限公司;北京布萊格科技有限公司
地址 100871北京市海淀區(qū)中關(guān)村北大街116號(hào)北京大學(xué)科技園孵化器2號(hào)樓2112室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種X射線衍射-熒光雙譜儀，包括X射線源，還包括：硅檢測(cè)器、單道脈沖幅度分析器及多道脈沖幅度分析器，所述X射線源產(chǎn)生X射線照射待測(cè)樣品；所述硅檢測(cè)器對(duì)所述待測(cè)樣品反射的X射線進(jìn)行檢測(cè)并將輸出分別送入所述單道脈沖幅度分析器及多道脈沖幅度分析器；所述單道脈沖幅度分析器僅選通衍射波長(zhǎng)，用于獲取待測(cè)樣品的X射線衍射譜；所述多道脈沖幅度分析器用于獲取待測(cè)樣品的X射線熒光能譜。本實(shí)用新型的技術(shù)方案在進(jìn)行衍射圖掃描的同時(shí)，獲取樣品的熒光散射能量譜，使儀器在工作時(shí)能夠充分獲取樣品的信息，同時(shí)得到樣品的X射線衍射譜和樣品的X射線能譜。