一種用于光電探測(cè)器批量測(cè)試的載盤及載盤系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610601770.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN106153094B | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-08-07 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN106153094B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-08-07 |
分類號(hào) | G01D18/00 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 李開(kāi)富;徐青;王麟;楊健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 武漢京邦科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 430074 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)光谷大道58號(hào)紅桃K電商辦公室第二層189號(hào)(Y) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于光電探測(cè)器批量測(cè)試的載盤及載盤系統(tǒng),該批量測(cè)試載盤包括多個(gè)陣列式分布的芯片槽,以及氣孔、抽氣孔、信號(hào)端金屬樁、信號(hào)端金屬引線、信號(hào)輸出觸槽、電源端金屬樁、電源端金屬引線和電源輸入觸槽。所述芯片槽、氣孔以及抽氣孔用以固定待測(cè)光電探測(cè)器;所述信號(hào)端金屬樁、信號(hào)端金屬引線以及信號(hào)輸出觸槽用以將待測(cè)光電探測(cè)器的測(cè)量信號(hào)讀出;所述電源端金屬樁、電源端金屬引線以及電源輸入觸槽用以為待測(cè)光電探測(cè)器提供供電。所述批量測(cè)試載盤輔以信號(hào)輸出接口和電源輸入接口,構(gòu)成了本發(fā)明所提供的批量測(cè)試載盤系統(tǒng)。本發(fā)明能夠?qū)Τ砂偕锨€(gè)光電探測(cè)器同時(shí)進(jìn)行快速高效的測(cè)試;并且可以方便地實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試量的快速讀取,進(jìn)而方便地對(duì)測(cè)試量進(jìn)行快速地統(tǒng)計(jì)分析。 |
