錯(cuò)誤注入攻擊測試用芯片表面空間敏感點(diǎn)搜尋方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110198722.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112989439A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN112989439A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G06F21/71 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 馬哲;潘雨洋;張祖松;張永峰;李彥昭 申請（專利權(quán)）人 北京銀聯(lián)金卡科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京北新智誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 滿靖
地址 100043 北京市石景山區(qū)實(shí)興大街30號院18號樓1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種錯(cuò)誤注入攻擊測試用芯片表面空間敏感點(diǎn)搜尋方法及裝置。方法包括令待測芯片進(jìn)入相應(yīng)工作狀態(tài)，同時(shí)執(zhí)行如下步驟：機(jī)械臂帶動電磁探頭對待測芯片表面空間上的待測區(qū)域進(jìn)行粗搜索，找出所有具有高風(fēng)險(xiǎn)值的子區(qū)域；機(jī)械臂繼續(xù)帶動電磁探頭依次對各具有高風(fēng)險(xiǎn)值的子區(qū)域進(jìn)行最優(yōu)點(diǎn)搜索，找出高風(fēng)險(xiǎn)值點(diǎn)；通過聚類算法確定出待測芯片的表面空間上出現(xiàn)的所有高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域，并將各高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域中出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)值最高的點(diǎn)作為敏感點(diǎn)；待測芯片表面空間敏感點(diǎn)搜尋完成。本發(fā)明能夠快速、準(zhǔn)確地尋找到芯片表面空間存在的敏感點(diǎn)，利于攻擊測試使用。