一種筆電外殼缺陷快速檢測算法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011618739.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112700415A | 公開（公告）日 | 2021-04-23 |
| 申請公布號 | CN112700415A | 申請公布日 | 2021-04-23 |
| 分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 劉子平;韋世強 | 申請（專利權）人 | 重慶宇海精密制造股份有限公司 |
| 代理機構 | 重慶百潤洪知識產權代理有限公司 | 代理人 | 程宇 |
| 地址 | 402760重慶市璧山區(qū)璧泉街道聚金大道1號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種筆電外殼缺陷快速檢測算法，通過分別采集待檢驗筆電外殼的待測圖像和無缺陷筆電外殼的標準模板圖像，并在待測圖像和標準模板圖像內截取用于進行對比的部分圖像，將其轉化為包含灰度值的二維數(shù)組，經(jīng)過粗定位和精確定位將截取至標準模板圖像的部分圖像對應投射至待測圖像內，并進行和差運算，從而找出部分圖像內的不同處，最后經(jīng)過遍歷對比，即可找出待檢驗筆電外殼的待測圖像和無缺陷筆電外殼的標準模板圖像是否存在不同之處，從而對筆記本電腦外殼是否存在缺陷進行自動判斷，從而提高筆記本電腦外殼缺陷檢驗的效率。?? |
