測試方法、裝置、設(shè)備、可讀存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111467850.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114020645A 公開（公告）日 2022-02-08
申請公布號 CN114020645A 申請公布日 2022-02-08
分類號 G06F11/36（2006.01）I;G06F8/53（2018.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 郭向飛 申請（專利權(quán)）人 海寧奕斯偉集成電路設(shè)計有限公司
代理機構(gòu) 北京市立方律師事務(wù)所 代理人 張筱寧
地址 314400浙江省嘉興市海寧市海寧經(jīng)濟開發(fā)區(qū)雙聯(lián)路128號科創(chuàng)中心B座263室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供了一種測試方法、裝置、設(shè)備、計算機可讀存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品，涉及芯片測試領(lǐng)域，該方法包括：獲取針對待測對象的測試數(shù)據(jù)對應(yīng)的反匯編文件和原始數(shù)據(jù)集；根據(jù)反匯編文件和原始數(shù)據(jù)集，確定待測對象對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用樹；根據(jù)待測對象對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用樹，對待測對象存在的缺陷進行調(diào)試。本申請實施例實現(xiàn)了有效的縮小針對待測對象缺陷的定位范圍，從而提高了定位效率。