檢測平面透明工件上灰塵和劃痕的光學(xué)模塊

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910799022.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110779934A 公開（公告）日 2020-02-11
申請公布號 CN110779934A 申請公布日 2020-02-11
分類號 G01N21/958;G01N21/94;G01N21/88 分類 測量；測試;
發(fā)明人 向先兵;陳銘勇 申請（專利權(quán)）人 深圳市燦銳科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市凱博企服專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 深圳市燦銳科技有限公司
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道鳳塘大道50號鑫龍科技園A棟2樓202
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種檢測平面透明工件上灰塵和劃痕的光學(xué)模塊，包括光源、待測屏幕透明工件、遠(yuǎn)心鏡頭和CCD，所述由下至上的方向依次排列光源、待測屏幕透明工件、遠(yuǎn)心鏡頭和CCD，光源包含光線，所述待測屏幕透明工件、遠(yuǎn)心鏡頭和CCD依次排列在光源的光線傳輸方向上，所述當(dāng)待測屏幕透明工件上沒有缺陷時(shí)，TD光源的光線到達(dá)待測屏幕透明工件發(fā)生透射，透射光線進(jìn)入遠(yuǎn)心鏡頭，所述當(dāng)待測屏幕透明工件上有凹陷和/或灰塵時(shí)，光源的光線發(fā)生折射和衍射。本發(fā)明解決了人工檢測中需要強(qiáng)光照以及需要多角度轉(zhuǎn)動(dòng)光源的問題，提高檢測的效率，降低了檢測的難度以及成本。