一種時鐘芯片的測試系統(tǒng)及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810085818.6 申請日 -
公開（公告）號 CN108226756B 公開（公告）日 2018-06-29
申請公布號 CN108226756B 申請公布日 2018-06-29
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏人同;龍盛朝 申請（專利權(quán)）人 深圳市興威帆電子技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 深圳市興威帆電子技術(shù)有限公司
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)梅華路207號安通大廈三樓東
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種時鐘芯片的測試系統(tǒng)及其測試方法；所述測試系統(tǒng)包括微控制器、計數(shù)器和高速時鐘源；所述微控制器用于將測試邏輯寫入待測時鐘芯片和對待測時鐘芯片進行設(shè)置以使待測時鐘芯片輸出報警中斷；所述計數(shù)器用于計算待測時鐘芯片產(chǎn)生的報警中斷的周期；所述高速時鐘源用于替代待測時鐘源產(chǎn)生時鐘脈沖信號；所述高速時鐘源的頻率大于待測時鐘源的頻率。所述測試方法包括測試計時邏輯和測試計時精度。本發(fā)明用一個測試系統(tǒng)即可實現(xiàn)測試計時邏輯和測試計時精度，有利于降低測試成本，提高性價比。??