一種時(shí)鐘芯片的測試系統(tǒng)及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810085818.6 申請日 -
公開（公告）號 CN108226756B 公開（公告）日 2018-06-29
申請公布號 CN108226756B 申請公布日 2018-06-29
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏人同;龍盛朝 申請（專利權(quán)）人 深圳市興威帆電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 深圳市興威帆電子技術(shù)有限公司
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)梅華路207號安通大廈三樓東
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種時(shí)鐘芯片的測試系統(tǒng)及其測試方法；所述測試系統(tǒng)包括微控制器、計(jì)數(shù)器和高速時(shí)鐘源；所述微控制器用于將測試邏輯寫入待測時(shí)鐘芯片和對待測時(shí)鐘芯片進(jìn)行設(shè)置以使待測時(shí)鐘芯片輸出報(bào)警中斷；所述計(jì)數(shù)器用于計(jì)算待測時(shí)鐘芯片產(chǎn)生的報(bào)警中斷的周期；所述高速時(shí)鐘源用于替代待測時(shí)鐘源產(chǎn)生時(shí)鐘脈沖信號；所述高速時(shí)鐘源的頻率大于待測時(shí)鐘源的頻率。所述測試方法包括測試計(jì)時(shí)邏輯和測試計(jì)時(shí)精度。本發(fā)明用一個(gè)測試系統(tǒng)即可實(shí)現(xiàn)測試計(jì)時(shí)邏輯和測試計(jì)時(shí)精度，有利于降低測試成本，提高性價(jià)比。??