一種準確測定雙面受光葉片光強的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610519685.X 申請日 -
公開（公告）號 CN106226465B 公開（公告）日 2018-09-28
申請公布號 CN106226465B 申請公布日 2018-09-28
分類號 G01N33/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭峰 申請（專利權(quán)）人 上海澤泉科技股份有限公司
代理機構(gòu) 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 郭桂峰
地址 200062 上海市普陀區(qū)金沙江路1038號華大科技園2號樓8層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種準確測定雙面受光葉片光強的方法及裝置，該方法包括S1測量第一測定光源至葉片一面之間的入射光的強度；S2測量第一測定光源透過葉片一面后出射光的強度；S3測量第二測定光源至葉片另一面之間的入射光的強度；S4測量第二測定光源透過葉片背面另一面后出射光的強度；S5根據(jù)S1?S4計算獲得所述葉片接收到的實際光照強度。本發(fā)明不僅能夠滿足對葉片雙面測定，還能夠準確反映葉片的實際受光強度，進而提高測量的精準度。