一種檢測變電設(shè)備缺陷的方法、裝置及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910653908.5 申請日 -
公開（公告）號 CN110567964B 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN110567964B 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01N21/88（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張繼勇;蔡恒;莊浩;劉鑫;韓立群 申請（專利權(quán)）人 華瑞新智科技（北京）有限公司
代理機構(gòu) 北京君慧知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 100083 北京市海淀區(qū)成府路3501號新東源北樓3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種檢測變電設(shè)備缺陷的方法，包括：接收采集設(shè)備發(fā)送的圖像，其中，所述圖像中包含所述變電設(shè)備的至少部分結(jié)構(gòu)，所述圖像包括可見光圖像以及紅外圖像；通過預(yù)先訓(xùn)練的識別模型，在所述可見光圖像中確定所述變電設(shè)備是否存在缺陷；并通過預(yù)存的所述變電設(shè)備各部分結(jié)構(gòu)的常規(guī)溫度，以及在所述紅外圖像中確定的所述變電設(shè)備的至少部分結(jié)構(gòu)的實際溫度，確定所述變電設(shè)備是否存在缺陷。在通過可見光圖像來判斷變電設(shè)備是否存在缺陷的同時，通過紅外圖像來根據(jù)溫度的變化判斷變電設(shè)備是否存在缺陷，可以更準確的判斷變電設(shè)備是否存在缺陷，保證了設(shè)備的穩(wěn)定性。