肖特基器件的耐壓不良的檢測(cè)電路

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201220052341.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN202471905U 公開（公告）日 2012-10-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN202471905U 申請(qǐng)公布日 2012-10-03
分類號(hào) G01R31/26(2006.01)I;B07C5/00(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 彭堅(jiān);李升樺 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 四川大雁微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都天嘉專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 四川大雁微電子有限公司
地址 629000 四川省遂寧市玉龍路1號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了肖特基器件的耐壓不良的檢測(cè)電路，對(duì)于雙芯片共引腳的肖特基器件，有兩個(gè)引腳極性是一樣的，另外一個(gè)為共用引腳，其特征在于：將所述共用引腳懸空，在相同極性的兩個(gè)引腳之間串接一個(gè)用于檢測(cè)測(cè)試流過(guò)相同極性的兩個(gè)引腳之間電流的電流表；同時(shí)，在相同極性的兩個(gè)引腳之間連接一個(gè)可施加正向的額定電壓和反向的額定電壓的電壓源；當(dāng)肖特基器件正常時(shí)，電流表測(cè)得的電流值應(yīng)為肖特基器件的漏電流值，如果測(cè)得的電流值很大，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出漏電流值，說(shuō)明肖特基器件已損壞；本實(shí)用新型可快速、準(zhǔn)確地篩選出特性不良的肖特基器件，同時(shí)不會(huì)造成產(chǎn)品的損壞和影響其它參數(shù)的檢測(cè)；通過(guò)本實(shí)用新型篩選后的肖特基器件，質(zhì)量好。