一種超小型封裝霍爾開關元器件測試座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420719133.X 申請日 -
公開（公告）號 CN204255990U 公開（公告）日 2015-04-08
申請公布號 CN204255990U 申請公布日 2015-04-08
分類號 G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊林;吳勇 申請（專利權）人 四川大雁微電子有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 629099 四川省遂寧市玉龍路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 超小型封裝霍爾開關元器件測試座，其特征在于，包括基臺，基臺上有圓形的基柱，基柱外圍繞有線圈，線圈連接電源。線圈通電時產(chǎn)生的磁場環(huán)繞整個測試座?；显O有多個貫穿的針孔，針孔的數(shù)量及孔的布置關系與待測霍爾開關元器件的管腳匹配，每個針孔內(nèi)從上到下依次嵌有探針和與探針匹配的針套，針套底端連接到測試機。探針和針套安裝后，探針高于基柱頂表面2~4mm，探針被下壓時，其最大行程為探針頂端下降到與基柱頂表面在同一水平面。探針頂部設有凹槽，測試座設置在三維調(diào)節(jié)基座上。本實用新型可解決霍爾開關IC在測試時接觸不好、產(chǎn)品疊加、管腳壓彎、需要在磁場下測試等問題，測量精確度高，并可與自動分選機匹配，提高自動化程度，節(jié)約成本。